上海松江LecroyUSB3.0夹具替代销售
　　码型发生器和分析仪之间的有损通道（即USB 3.0 参考通道和线缆）在垂直方向和水平方向导致了频率相关损耗，这种损耗的表现是眼图闭合（图6）。为解决这种损耗，可以使用发射机去加重，提升信号的高频成分，以便接收的眼图在10-12（或更低）BER下足够好。
• 水平模块插槽方向。
　　随着USB 3.0开始转入主流，成功的发射机一致性和认证测试对新产品上市至关重要。这些产品不仅能与其它USB 3.0设备很好地一起工作，还满足了消费者在各种条件下的性能和可靠性预期。除大幅度提高性能外，USB 3.0还提出了一系列新的测试要求，与上一代标准相比，带来了更多的设计和认证挑战。
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力科于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试解决方案，能提供端到端的互操作测试和兼容性测试，包括了Transmitter测试、Receiver测试、TDR测试。此外，力科还提供了业界的USB3.0协议层测试方案。
软件可以使USB3.0发送端的各项测试自动化，并生成多种格式的测试报告。在的USB3.0测试软件中，包括差分电压摆幅测试、去加重比值测试（De-emphasis ratio test）、眼图和抖动测试、扩频时钟测试（Spread Spectrum Test），图1所示为报告中的整体测试项目概览，列出了测试项目对应的Spec的条目，测试项目的名称，当前测试结果，测试判定条件等。

2. SSC（Spread Spectrum Clock）展频测量
　　CTLE和FFE是线性均衡器。因此，这两种技术都会提升高频噪声，而产生信噪比劣化。但是，DFE在反馈环路中使用非线性元器件，使噪声的放大达到，补偿码间干扰（ISI）。图3示例了一个经过传输通道明显衰减的5Gbps 信号，和使用去加重、CLTE和DFE均衡技术处理之后的信号。

从眼图上可以看到，在没有去加重时，所有比特位的幅度理论上是相同的。有了去加重，跳变位比非跳变位的幅度要高，有效地提高了信号的高频成分。
SSC通常用于同步的数字系统（包括USB 3.0），以降低电磁干扰（EMI）。如果没有SSC，数字信号的频谱在其载频（即5 Gbits/s）及其谐波上将出现高能的尖峰值，可能会超过法规限制（图7）。

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各通道skew差异小于±2ps。