Qualitas半导体选用安立矢量网络分析仪


	Qualitas半导体选用安立矢量网络分析仪

法国半导体设计企业Qualitas Semiconductor近日宣布,正式采用日本安立(Anritsu)旗下的ShockLine™ MS46524B四端口矢量网络分析仪(VNA),以全面升级其高速接口IP的物理层(PHY)信号完整性验证能力。这一举措标志着Qualitas在应对日益复杂的高速互联挑战时,构建了更为严谨的系统级测试环境。

Qualitas作为专注于高速互连PHY IP解决方案的厂商,其产品线涵盖SerDes PHY、PCI Express® PHY、UCIe以及以太网PHY等核心技术。这些IP广泛应用于人工智能数据中心汽车电子及移动系统等领域。随着数据传输速率的飞速提升,仅验证IP模块本身已不足够,必须将PCB、封装及连接器等全链路纳入考量。传输损耗、信号反射及串扰等物理因素对信号完整性的影响愈发显著,亟需高精度的测量环境。

此次选用的安立ShockLine™ MS46524B分析仪,凭借其在高频测量中的卓越稳定性,成为Qualitas的关键工具。该设备支持差分S参数测量与时域反射(TDR)技术,能够定量分析高速通道的信号质量。其独特的混合环境支持能力(兼容探针与同轴电缆)及高分辨率TDR功能,使得工程师能够精准捕捉封装结构与PCB电路中的阻抗变化,从而在实验室中高度还原真实系统工况,确保PHY IP开发的可靠性。

对于中国半导体行业而言,随着国产AI芯片与高速接口标准的快速迭代,建立覆盖全链路的系统级验证能力已成为核心竞争力之一。Qualitas的这一选型趋势表明,面对更复杂的物理层挑战,高精度矢量网络分析正从单纯的研发辅助工具转变为保障产品良率与上市速度的关键基础设施,值得国内芯片设计企业重点关注。

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九域半导体科技(苏州)有限公司
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公司资料
主要经营:晶圆电阻率测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、迁移率(霍尔)测试仪、少子寿命测试仪、PN型号、表面光电压仪JPV\SPV、汞CV、ECV。为碳化硅、硅片、氮化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。
公司成立于2021年,是一家注册在苏州、具备世界领先技术的非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体,主要攻克国外垄断技术,替代进口产品,使半导体材料测试设备国产化。主要产品:非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪,方阻测试仪,硅片电阻率测试仪,涡流法高低电阻率分析仪,晶锭电阻率分析仪,涡流法电阻率探头和PN探头测试仪,迁移率(霍尔)测试仪,少子寿命测试仪,晶圆、硅片 ...
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