静电放电抗 扰度试验 EN 61000-4-2:2009

静电放电抗扰度试验较新标准GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001

1.1 静电放电的起因：

1.2 试验目的：　　试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。
它模拟：　　
（1）操作人员或物体在接触设备时的放电。　　
（2）人或物体对邻近物体的放电。

静电放电可能产生的如下后果：　　
（1）直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。　　
（2）放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作。　　

1.3 放电方式 ：
直接放电（直接对设备的放电）：接触放电为可以选择形式；只有在不能用接触放电的地方（如表面涂有绝缘层，计算机键盘缝隙等情况）才改用气隙放电。

间接放电：水平耦合，垂直耦合