2010年3月18日，中国防伪行业协会在北京召开技术评审会，会议对我公司《形状记忆防伪标签》进行了专题技术评审，参加会议的专家有：北京理工大学光电工程系的哈流柱教授、北京化工大学材料科学与工程学院的张军营教授、中国计量科学研究院的席德熊研究员、中国人民银行印制科学技术研究所马长生高级工程师、中国防伪行业协会陶惠标高级工程师、陈锡蓉高级工程师、徐继华教授。陈锡蓉高级工程师主持了会议。
与会专家对我公司《形状记忆防伪标签》给予了高度评价，一致认为：《形状记忆防伪标签》产品选材特殊，制作工艺复杂，技术独占，产品独特，难以仿制。并且产品的防伪识别特征明显，识别验证方法简便、可靠,是目前国内市场上一项全新的高科技防伪产品。会上专家们对《形状记忆防伪标签》产品提出了建设性的建议。同时希望我公司《形状记忆防伪标签》产品能早日投放市场，服务于我国品牌保护，为民族工业的振兴和发展做出应有的贡献。
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