高加速寿命测试（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT测试）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的高环境应力来揭示设计缺陷和不足的过程。高加速寿命测试的目的是在，短时间内即可进行产品的失效原因分析，可在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。
测试目的
· 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；
· 了解产品的设计能力及失效模式；
· 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；
· 快速找出产品制造过程的瑕疵；
· 增加产品的可靠性，减少维修成本；
· 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。
实验室高加速测试设备
高加速老化试验机
测试能力
实验室测试范围：*低温度：-70℃，*高温度：150℃
湿度范围：60℃/min
高加速寿命试验项目包括
· 低温步进应力试验；
· 高温步进应力试验；
· 快速热循环试验；
· 振动步进应力试验；
· 综合应力试验；
· 工作应力测试。