植筋胶成分检测，电感耦合等离子体发射光谱仪测试
等离子体是一种电离度大于0．1％的电离气体，由电子、离子、原子和分子所组成，其中电子数目和离子数目基本相等，整体呈现中性。常用的等离子体光源是直流等离子焰(DCP)、感耦高频等离子炬(ICP)、容耦微波等离子炬(CMP)和微波诱导等离子体(MIP)等。其中电感耦合等离子体炬(简称ICP)在发射光谱分析中引用的为广泛。以电感耦合等离子体为光源的原子发射光谱法简称为ICP-AES。
原子发射光谱分析，简称为发射光谱。它是利用物质发射的光谱而判断物质组成的一门分析技术。因为在光谱分析中所使用的激发源是火焰、电弧、电火花、高频电感等离子体焰炬，被分析物质在激发光源作用下一般都离解为原子或离子，因此，被激发后魄光谱是线状光谱。这种线状光谱只反映原子或离子的性质，而与原子或离子来源的分子状态无关。所以，光谱分析只能确定试样物质的元素组成与含量，而不能给出试样物质分子的结构信息。为了解它的基本原理必须知道原子结构，特征谱线和谱线强度。
发射光谱分析法就基于不同的元素(原子)能产生不同的特征光谱。各元素(原子)之所以会有不同的特征光谱，与它们的原子结构密切相关。基态原子在外界能源(光、热、电等)作用下，获得能量而使其外层电子从低能级跃迁到较高的能级上去。使原子具有较高的能量，呈激发态。激发态的原子是不稳定的，约经过10-8 s，电子又从高能级将多余的能量以光的形式放出，跃迁回到低能级，即原子由激发态回到基态。这个过程可以一步实现，也可以分步实现。原子发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。从这一点而言，它与原子吸收光谱分析法都基于一共同的基础——原子外层电子的跃迁。但是两者是相反的过程。由于待测元素原子的能级结构不同，因此发射谱线的特征不同，据此可对样品进行定性分析；而根据待测元素原子的浓度不同，因此发射强度不同，可实现元素的定量测定。
