可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速反应产品在使用环境中的状况，来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。
电子产品可靠性试验目的通常有如下几方面：
1、在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定指标的情况；
2、生产阶段为监控生产过程提供信息；
3、对定型产品进行可靠性鉴定或验收；
4、暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；
5、为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。
电子产品可靠性试验的方法及分类
一、如以环境条件来划分，可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验；
二、以试验项目划分，可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验；
三、若按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；
四、若按试验性质来划分，也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。
对电子元件常用的环境试验项目有：
气候试验：密封性试验、温度循环试验、热冲击试验、气压试验、潮热试验、盐雾试验。