在工业生产中,覆盖层的厚度过薄将难以发挥材料的特殊功能和性能等作用, 过厚则会造成经济上的浪费,而且覆盖层的厚薄不匀或未达到规定要求, 将会对其机械物理性能产生不良影响。因此,材料表面覆盖层的厚度均匀性是*为重要的产品质量指标之一。对材料表面覆盖层进行检测,已成为材料加工工业和用户进行产品质量检测必备的*重要的工序,是产品达到优质标准的必备手段。
常用的镀层厚度测量方法包括破坏性和非破坏性两大类。破坏性测厚法包括阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等;非破坏性测厚法包括机械量具法、磁性法、涡流法、β射线反向散射法、X射线分光法等。采用这些方法测量镀层的厚度时请参照相应的国家标准。
库仑法
原理：库仑法又称电量法.在被测镀层表面的已知面积上,以恒定电流密度在相应试液中镀件作为阳极来溶解镀层.当镀层金属溶解完毕,裸露出基体或中间镀层时,电解池电压发生突变,以此作为测量终点.根据库仑定律,以溶解镀层金属消耗的电量、溶解镀层面积、镀层金属的电化当量、密度以及阳极溶解的电流效率计算镀层的局部厚度。检测设备：库仑测厚仪
电位差曲线图片：
应用：1、测定各种金属镀层的厚度。2、测定多层金属镍之间的电位差。
金相法
原理：利用光学原理，对物体进行放大，可以观察到物体表面或断面的金相显微结构。
制作切片操作步骤：切割—镶嵌—磨光—抛光—微蚀—清洗—拍照
检测设备：金相显微镜
金相图片：
应用：
通过对电镀用的底材、电镀层的横截面和表面的结构放大观察，可分析电镀品的品质和找出缺陷（如气孔、裂纹、夹杂物、剥皮等）产生的原因及测量镀层厚度。
X-射线法
原理：X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线出现能量位置及其强度可以得到镀层组成及厚度的信息。
检测设备：X射线荧光测量仪
测试位置：
应用：
X射线测试涂镀层被认为是***的方法，可以测量几乎任何底材上的任何单层、多层或合金的金属镀膜厚度，用于各种金属镀层厚度的测量和成份的分析。
其他测试方法
磁性法:
利用磁通量随涂膜的非磁性层在磁体和底材之间厚度的变化而变化的原理来测定磁性金属（铁基）底材上的涂膜厚度。
涡流法:
利用感应涡流的大小随仪器探头线圈与基础金属间涂膜厚度的大小变化而变化的原理来测定非磁性金属（非铁基）底材上的膜厚。
镀层厚度检测标准
GB/T 4957-2003——非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法
GB/T 4956-2003——磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法
GB/T 6462-2005 ——金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
GB/T 16921-2005——金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法
GB/T 1839-2008——钢产品镀锌层质量试验方法
GB/T4955-1997——金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法
ASTM B504-90(2007)——用库仑法测量金属镀层厚度的标准试验方法
ASTM B764-2014——多层镍镀层中单层厚度和电极电位测定的标准试验方法
ASTM B487-85(2007) ——用横断面显微观察法测定金属及氧化层试验方法
ASTM B568-98(2004)——用X射线光谱测定法测定镀层厚度的标准试验方法
ISO2177-2003——金属覆盖层.覆盖层厚度的测量.阳极溶解库仑法
ISO 1463-2003——金属和氧化物覆盖层.覆盖层厚度的测定.显微镜法
