原子吸收分光光度计的几种干扰和消除办法
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(一)谱线干扰:
待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全,这类干扰主要来自光源和原子化装置,主要有以下几种:
1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。
可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。
2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。
换用纯度较高的单元素灯减小干扰。
3.灯的辐射中有连续背景辐射。
解决办法:用较小通带或更换灯
(二)背景吸收:
由于原子化器中存在的气体分子和盐类所产生的吸收以及存在的固体颗粒对光的散射引起的干扰,叫背景吸收。 试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应,主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。
解决办法:可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。
1、邻近线背景校正
用分析线测量原子吸收分光光度计与背景吸收的总吸光度,因非共振线不产生原子吸收 用它来测量背景吸收的吸光度。两者之差值即为原子吸收的吸光度。
2、连续光源背景校正
先用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总和。再用氘灯在同一波长测定背景吸收计算两次测定吸光度之差,即为原子的吸光度。
旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰;
连续光谱通过时:测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略);
共振线通过时,测定总吸收;差值为有效吸收。
(三)化学干扰:
化学干扰是指在溶液中或气相中由于待测元素与其它组分之间的化学反应而引起的干扰。
1. 化学干扰的类型
(1)待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物,致使参与吸收的基态原子减少。
(2)待测离子发生电离反应,生成离子,不产生吸收,总吸收强度减弱,电离电位≤6eV的元素易发生电离,火焰温度越高,干扰越严重。
2.化学干扰的抑制
通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑制或减少化学干扰:
(1)释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释放出来。
(2)保护剂—与待测元素形成稳定的络合物,防止干扰物质与其作用。
(3)饱和剂—加入足够的干扰元素,使干扰趋于稳定。
(4)电离缓冲剂—加入大量易电离的一种缓冲剂以抑制待测元素的电离。
四、电离干扰:
电离干扰是指待测元素的原子电离而引入的干扰。
消除方法:采用较低的温度和加入消电离剂。消电离剂是一些易电离的元素,它增加了火焰中的自由电子的浓度,可有效地抑制和消除电离干扰。
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