CTLD-350型热释光剂量仪测量结果的质控措施
（北京瑞辐特辐射测量仪器有限公司）
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[摘要] 讨论了CTLD-350热释光剂量读出器测量的质量控制问题。CTLD-350热释光剂量仪中参考光源的光谱应与光电倍增管道匹配，光学系统透射系数要高而稳定，高压须稳定性高，加热器与探测器要保持良好的热接触；探测器应经过筛选，严格控制退火条件，测量参数要优化确定；剂量刻度源的辐射种类和能谱应与所测量的尽量一致，并须按照国家标准规定的要求刻度，文中介绍了几种剂量刻度方法。为达到上述质量要求，提出了应采取的方法和措施。
关键词 质控措施；光源；剂量刻度；能量鉴别；辐射剂量；退火
１、CTLD-350热释光剂量读出器控制
热释光剂量测量的精度与读出器的性能有着密切的关系。而读出器的性能和参考光源、高压稳定度，光学系统、加热盘的性能和测量气氛等因素有关。
1.1 参考光源
参考光源用于校正读出器的灵敏度，需要用一个恒定的参考光源置于测量时探测器所处位置，对读出器的灵敏度进行控制。在每次读数以前或间隔一定时间由操作人员完成，或由控制系统自动完成。
CTLD-350型热释光剂量读出仪采用英国进口光源，参考光源该光源具有发光均匀、性能稳定等特点。
不同探测器的发射光谱是不同的，测量时应注意探测器发射光谱与所用读出器的光电倍增管吸收光谱匹配的问题。参考光源的发射光谱最好与所使用探测器的发射光谱相近似，但这对一些采用多种热释光探测器的用户来讲是很难做到的。这也是造成文献报道探测器剂量特性差别的一个主要原因之一。
1.2 光学系统
参考光源具有确定的发射光谱，当参考光源的光在到达光电倍增管之前，要通过滤光片和透镜组成的光路，这个光路对不同波长的光有不同的透射系数。光谱透射系数的不稳定性，以及在使用过程中由灰尘和有机氧化物引起的表面污染导致透射系数的变化，使得参考光源的读数要减小。为了补偿参考光源读数的减小，通常采用增加光电倍增管高压的办法。这样做对那些热释光发射光谱与参考光源光谱相一致的探测器可认为是适当的，而对那些发射光谱与参考光源光谱差别较大的探测器则将导致较大的误差。其原因是透射系数的选择性，即它在整个谱域中的非线性变化。因此应保持光路的清洁，在光路和探测器之中加隔热玻璃和通惰性气体是较有效的措施。
1.3 高压
多数光电倍增管的光谱响应将随着高压的变化而漂移，并且探测器的灵敏度显著依赖于光电倍增管的高压。因此需要在调整高压以后进行重复校准，以确保读出器的高压具有较高的稳定度(0.05%)。
1.4 加热盘
加热盘表面的光学性质对热释光信号的测量有一定的影响。这是由于到达光电倍增管的热释光的一部分来自加热盘表面的反射光的缘故。这种反射光成分会随着加热盘表面反射性能的变化而变化。使用永久性的加热盘，例如由贵重的铂做成的加热盘，可以减小误差。为了避免这种误差，可采用热气(空气、氮气)、激光加热等技术。采用这些加热技术可使热释光探测器加热盘上位置的不一致引起的误差(可达10%以上)变小。
1.5 气氛
对热光探测器低辐射水平的测量，可在惰性气体(氮气、氩气)的气氛中测量，采取这种措施可以减小或消除加热盘表面热致化学发光。人们发现在温度坐标轴上，发光曲线的位置以及探测器多次使用中的精度都依赖于读出气氛的选择。例如，在干燥氩气中读出与在干燥氮气中读出相比，其测量温度应尚高一些。
２、CTLD-1000型热释光探测器测量
2.1 测读参数
热释光剂量测定值(NTL)受测量条件诸多因素的影响，因此优化测读参数是至关重要的。测量参数和探测器的类型、规格等因素有关，通常有厂家提供。考虑到所用读出器的差别，用户可参照厂家提供的测量参数适当进行调整，以保证探测器工作在最佳测量条件。其方法如下：
在某一加热速率下测量读出器的加热曲线(图1 曲线A)，在同一条件下测量探测器的热释发光曲线(图1 曲线B)。
图1、探测器加热及热释发光曲线
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