金属材料：金属薄膜、涂层、箔片、板材、合金薄片、纳米薄膜、电极薄膜、氧化物薄膜等。
半导体材料：硅薄膜、GaAs、InP、CdTe、GaN薄膜、SiC、ZnO、Perovskite薄膜等。
塑料制品：聚乙烯薄膜、聚丙烯、聚氯乙烯薄膜、聚苯乙烯、聚酯薄膜、聚碳酸酯、聚氨酯、聚甲醛薄膜等。
膜厚检测方法和相应的仪器设备：
X射线荧光光谱仪：用于分析材料中元素的含量及薄膜厚度。
电子探针仪：用于测量材料表面的成分和膜厚。
原子力显微镜：用于观察材料表面的形貌和测量膜厚。
椭偏仪：用于测量透明薄膜的膜厚和光学性质。
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