OTDR设计用于处理网络上的高反射强度问题；但是，如果OTDR连接器(http://www.cnjat.com)上始终存在高反射强度，那么所有测试的性能都会受到影响，即使仅在APC的链路上也不例外。
反射强度对衰减盲区的影响
衰减盲区是一种规格指标，表示在反射点之后，OTDR信号的光纤背向散射强度返回至低于0.5dB的差值所需的距离。接收器电子器件和光电探测器都会导致在反射后出现恢复区。
在各厂商的OTDR规格指标中，衰减盲区的性能通常会被优越的反射条件而掩盖（–45dB、–55dB甚至–65dB，具体取决于OTDR制造商）。众所周知，反射强度的信号峰值可能比光纤背向散射高1000至100000倍。由于反射强度对背向散射的比值范围如此之大，因此显而易见的是，衰减盲区高度依赖于连接器反射强度。
优化OTDR和iOLM软件应用程序的性能，应从光路的低反射强度开始考虑。因为较高的反射强度可能会拉长盲区。在测试FTTx网络时，反射强度对性能的影响更为显著，因为分光器会造成较大损耗。与UPC连接器相反，APC连接器通常维持较低的反射强度，即使在脏污或磨损的情况下依然如此，从而确保最优的测试性能。
水平会直接影响OTDR盲区，随着反射强度的升高，盲区会变得更长。这是因为连接器反射强度可能比OTDR测得的背向散射信号强度高出很多数量级。
好的UPC连接器反射强度为–55dB，产生的信号峰值可能比5ns脉冲的光纤背向散射（在1550nm下约为–75dB）高100倍。不好的UPC连接器（反射强度通常为–45至–25dB）产生
图1.反射强度为–45dB和–25dB的典型OTDR曲线：反射强度为–25dB时衰减盲区出现显著增长。
反射强度对PON盲区的影响
PON盲区的定义与衰减盲区非常相似，不同的是PON适用于具有显著损耗值的事件（而衰减盲区通常适用于损耗可忽略的事件）。与衰减盲区类似，PON盲区定义为OTDR信号的背向散射强度达到低于0.5dB所需的距离。
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