电阻失效检测,介电损耗因数测试
温度范围:室温~ 500℃
4.温控精度:0.5℃(室温),1.5℃(250℃)
5.大磁场:2560kA/m(3.2T,10mm间隔,极头尺寸≥φ80mm),2240kA/m(2.8T,10mm间隔,极头尺寸≥φ120mm),
2000kA/m(2.5T,10mm间隔,极头尺寸≥φ80mm);
6.测量重复性:Br:±30Gs,HcJ:±50Oe(室温)
测试参数:
Br、HcB、HcJ、(BH)max、Hk、Hd5、退磁曲线以及磁滞回线等。
电阻失效检测,介电损耗因数测试
温度范围:室温~ 500℃
4.温控精度:0.5℃(室温),1.5℃(250℃)
5.大磁场:2560kA/m(3.2T,10mm间隔,极头尺寸≥φ80mm),2240kA/m(2.8T,10mm间隔,极头尺寸≥φ120mm),
2000kA/m(2.5T,10mm间隔,极头尺寸≥φ80mm);
6.测量重复性:Br:±30Gs,HcJ:±50Oe(室温)
测试参数:
Br、HcB、HcJ、(BH)max、Hk、Hd5、退磁曲线以及磁滞回线等。
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万博检测已建设成为一个集环境可靠性试验、材料性能测试、电磁兼容(EMC)、安规测试、化学分析、理化检测为一体的大型综合性检测服务机构。服务能力覆盖军用/民用、电子电器、汽车、材料、航空航天、通用设备、船舶、机械、医疗器械、纺织玩具、橡胶塑料、运输包装等应用领域,现有规模、测试能力和水平处于行内检测机构的高水平。
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