任何与装备的故障、故障效应以及可靠度提升相关的测试或试验，都可以认为是一种可靠性试验。在装备的整个寿命周期内，其可靠性不仅受到设计、制造阶段的影响，同时也受到管理水平和试验能力约束。装备可靠性试验在保障装备的可靠性达到设计的可靠性要求过程中起到至关重要的作用。
寿命试验目的:考核产品在规定的条件下，在全过程工作时间内的质量和可靠性。为了使试验结果有较好代表性，参试的样品要有足够的数量。试验条件:微电路的寿命试验分稳态寿命试验、间歇寿命试验和模拟寿命试验。
热冲击试验目的：考核产品承受温度剧烈变化，即承受大温度变化速率的能力。试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效．热冲击试验与温度循环试验的目的基本一致，但热冲击试验的条件比温度循环试验要严酷得多。
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