库仑法
适用于通过阳极溶解库仑法测量单层和多层金属涂层的厚度，包括测量多层系统的厚度，如Cu/Ni/Cr、合金涂层和合金扩散层。它不仅可以测量平面样品的涂层厚度，还可以测量圆柱体和金属丝的涂层厚度。特别适用于测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量的涂层类型为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
金相法
一种用金相显微镜测量金属涂层和氧化膜局部厚度的方法。通常，厚度测量需要大于1um，以确保测量结果在误差范围内；厚度越大，误差越小。
X射线法
适用于电镀、电子电路板等行业待分析金属镀层厚度的测量。它包括金（Au）、银（Ag）、锡（Sn）、铜（Cu）、镍（Ni）、铬（Cr）和其他金属元素的厚度。