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扫描电镜SEM测试 样品表面形貌和成分分析

更新:2024-12-04 09:00 发布者IP:116.23.161.142 浏览:0次
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扫描电镜SEM测试  样品表面形貌和成分分析  

扫描电镜(SEM)测试是一种利用高能电子束扫描样品表面,通过检测和分析电子与样品相互作用产生的信号来获取样品表面形貌、成分等信息的高分辨率微区形貌分析方法。

扫描电镜SEM测试周期是多久?


到样后5-7个工作日可出具检测报告(可加急),根据样品及其检测项目/方法会有所变动,具体需咨询工程师。


扫描电镜SEM测试项目有哪些?


需要前处理,非磁性EDS-面扫,非磁性EDS-线扫,磁性EDS-点扫,磁性-形貌,非磁性-形貌,非磁性EDS-点扫,磁性EDS-线扫,磁性EDS-面扫等。


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扫描电镜SEM测试标准是怎样?


18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式


ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法


SEMI F73-0309-2009 扫描电子显微镜 (SEM) 评估不锈钢部件润湿表面状况的测试方法


18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法


ASTM F1372-93(2020 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜(SEM)的标准测试方法


DIN ISO 16000-27:2014-11 室内空气 第27部分:通过 SEM(扫描电子显微镜)测定表面上沉积的纤维灰尘(直接法)


JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法


ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定




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