中国科学院广州化学研究所分析测试中心介绍X射线光电子能谱仪

产品型号: axis-ultra dld-600w

生产厂家:日本岛津-kratos公司

仪器介绍:axis-ultra dld光电子能谱仪配备有多个国际标准窗口的样品处理室，功能强大且扩展性强，配有多样品停放台，大幅提高测试效率。样品处理室、分析室均配有冷热台，满足多层次测试需求。样品分析室配备ups、aes、iss等信号分析器，多角度获取样品信息。样品分析室配备低能悬浮离子枪、荷电中和系统、双阳极al/mg靶等大幅拓展测试样品范围。

主要附件：紫外光电子能谱仪ups、俄歇电子能谱仪aes、离子散射谱iss、双阳极al/mg靶、低能悬浮离子枪、真空断裂台、分析室冷热台等。

性能指标:

· 大束斑slot模式下能量分辨率：优于0.48 ev/(ag 3d5/2)@400 kcps；

· 最小15μm分析区域下能量分辨率：优于0.50 ev/(ag 3d5/2)@0.65 kcps；

· 110μm分析区域下能量分辨率：优于0.50 ev/(ag 3d5/2)@75 kcps；

· 荷电中和系统：优于0.68 ev/(pet上o-c=o的c 1s)@15 kcps；

· 空间分辨率：优于3 μm；

主要特色:

· 高效的同轴单电子源低能电子荷电中和系统，对pet上o-c=o的c 1s的分辨率可达0.68 ev，满足大部分绝缘样品的全自动高分辨率分析要求。

· 二维的延迟线dld检测器，可同时获取光电子的位置和强度，从而实现“从图得谱”。

· “快照采谱（snap shot）”模式，在十数秒内即可获取完整的光电子能谱图，极大提高分析效率。

· “从图得谱”模式采谱，无需重复测试，即可从xps成像中获取光电子能谱。

主要应用:主要用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析。可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。