提到可靠性测试,就离不开电子产品的相关检测,今天亿博小编就来给大家普及一下电子产品的可靠性测试之低气压测试。
首先,什么是低气压测试?
低气压试验就是将试验样品放入试验箱(室),然后将箱(室)内气压降低到有关标准规定的值,并保持规定持续时间的试验。其目的主要用来确定元件、设备或其他产品在贮存、运输和使用中对低气压环境的适应性。通常高低温环境结合低气压构成综合环境应力来评价产品的失效机理等。
其次,来介绍一下可靠性的低气压测试相关标准:
1. GB/T 2421.1-2008《电工电子产品环境试验 概述和指南》
2. GB/T 2423.21-2008《电工电子产品环境试程 第2部分:试验方法 试验M:低气压》
3. GB/T 2423.25-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验》
4. GB/T 2423.26-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验》
5. GB/T 2423.27-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验》
6. GB/T 2424.15-2008《电工电子产品环境试验 温度/低气压综合试验导则》
7. GJB 150.2A-2009《军用装备实验室环境试验方法 第二部分 低气压(高度)试验》
8. GJB 360B-2009 《电子及电气元件试验方法 方法105 低气压试验》
那么,可靠性的低气压测试试验目的是:
由于大气压的降低,产品的机械性能和电气性能都会受到很大影响,有时会导致产品的破坏。由于高度的增加,大气压的降低,大气密度的降低,空气也变得稀薄。在我们考虑的高度范围内(低于3000米),空气中分子的平均自由程仍然很小,大气仍可看成是连续介质流体,空气的流动特性和热力学特性在低气压条件下于正常大气条件下一样遵循相同的物理规律,但低气压的情况与正常大气相比,产品会受到不同的影响。
例如产品散热情况于正常大气条件不同。由此可知,低气压条件下,辐射散热所占比例增大,对流散热所占比例降低,此外由于大气密度的降低,散热产品周围介质条件也将发生变化。低气压对产品的影响在正常大气条件下是无法模拟的,因此必须进行低气压试验。
由于气压低,产品的机械和电气性能都会受到很大影响,有时会导致产品的损坏。低气压环境条件对产品的影响在正常大气条件下是无法模拟的,必须按相关标准进行试验。只有这样,产品质量才能得到保证。
接下来,可靠性的低气压测试试验影响:
气压降低对产品的直接影响主要是气压变化产生的压差作用。这对于密封产品的外壳会产生一个压力,在这个压力的作用下会使密封破坏。然而气压降低的主意作用还在于因气压降低伴随着大气密度的降低及空气的平均自由程增大,有次会使产品的性能受到很大影响。
散热产品的温升随大气压降低而增加。电工电子产品有相当一部分是发热产品,如电机、变压器、接触器、电阻器等。这些产品在使用中要消耗一部分电能变成为热能,这样产品会发热,温度升高。产品因发热而使温度升高,这温度升高部分称之为温升。散热产品的温升随大气压的降低而增加,随海拨高度的增加而增加。导致产品的性能下降或运行不稳定等现象出现。
低气压对密封产品的影响。 低气压对密封产品的影响主要是由于大气压的变化形成压差。压差引起一个从高压指向低压的力。在该力作用下,使气体流动来达到平衡。而对于密封产品,其外壳将承受此力。此力可以使外壳变形、密封件破裂造成产品失效。
低气压对电性能的影响。海拨高度增加气压降低,对电工电子产品的电气性能也会产生影响。特别是以空气作为绝缘介质的设备,低气压对设备的影响更为显著。在正常大气条件下,空气可以是较好的绝缘介质,许多电气产品以空气为绝缘介质。这些产品用于高海拨地区或作为机载设备时,由于大气压降低,常常在电场较强的电极附近产生局部放电现象,称之为电晕。更严重的是,有时会发生空气间隙击穿。这意味着设备的 正常工作状态被破坏。
在低气压下,特别是伴随高温条件时空气介电强度显著降低,即电晕起始电压和击穿电压显著降低,从而使电弧.表面放电或电晕放电的危险性增加。
最后,可靠性的低气压测试严酷等级:
相关标准规定温度、气压和暴露持续时间表示试验严酷等级,下表为GB/T 2423.25-2008中低温/低气压综合试验优选组合: