查尔姆斯理工研发半导体缺陷温度计算新框架


	查尔姆斯理工研发半导体缺陷温度计算新框架

查尔姆斯理工大学研究人员开发出一种新型计算框架,能够更准确地模拟半导体材料中缺陷在不同温度下的行为特性。该成果有望提升太阳能电池、传感器及未来量子技术等相关器件的设计精度,相关已于《npj Computational Materials》。

所有材料均存在固有缺陷。这些缺陷并非总是有害,有时可用于定向赋予材料特定性能,但必须明确其作用机制及对材料性质的影响。传统材料缺陷计算通常基于绝对零度(零下273摄氏度),此时原子与分子完全静止。然而,面向实际产品与日常应用,掌握材料在常规温度下的表现至关重要。

研究团队展示了一种显著更高效的缺陷性质计算框架,在计入温度效应的同时使结果更贴近现实。物理与天文系Julia Wiktor教授指出,常规建模常将材料视为完美晶体,但实际材料中存在原子缺失、间隙原子或原子互换位置等不完美结构,这些缺陷会直接影响材料的性能与功能。

团队通过研究晶体结构中缺失原子这一点缺陷,观察温度对其行为的影响。多数基于绝对零度的模型无法捕捉这一过程,而新方法填补了该空白,使研究人员能在整个温度范围内追踪缺陷演变。博士研究员Tobias Hainer表示,该方法的结果与实验观测相符,且不仅能获得初始和最终测量值,还能完整记录缺陷随温度变化的动态过程。

缺陷的位置决定了其对材料的具体影响。以半导体为例,其存在禁带(无可用电子态的能量区间),缺陷会在禁带内引入不同的能级。若能级深陷禁带内部,通常不利于实际应用;若靠近禁带边缘,则可通过工程手段调控半导体的电学性能。Hainer强调,在设计材料基应用时,缺陷能级的位置极为关键。若在绝对零度下预测其靠近边缘而认为无害,但在其他温度下可能向禁带深处移动变为有害,反之亦然。

该团队展示了在高于绝对零度的条件下进行计算的新途径,在兼顾多种材料类型适用性的同时避免了过高的计算成本。Wiktor教授说明,核心研究重点是缺失原子关联的能级随温度的变化,研究发现多种材料的能级发生了显著的定量与定性偏移,这些变化在传统零度模型中会被遗漏。机器学习技术的发展使此次大规模计算成为可能,十年前因计算耗时过长难以实现。

研究团队希望该方法能为面临具体材料问题、且缺陷行为或重要性尚不明确的研究人员提供参考,支持后续合作或直接应用该计算工具。该项目获瑞典战略研究基金会、瑞典能源局、瑞典研究理事会、欧洲研究理事会及沃林格基金会资助,计算工作依托瑞典国家学术超级计算基础设施(NAISS)的C3SE、PDC和NSC节点完成。

资料来源:Chalmers University of Technology;原文发布日期:2026-10-29。本文为资料编译。

版权与内容声明:本页面文章“查尔姆斯理工研发半导体缺陷温度计算新框架”由顺企网发布或提供。顺企网原创或者依法取得授权的文字、图片及编排成果,未经许可不得复制、批量采集、镜像展示或者用于商业用途;由企业用户或其他权利人提供的内容,其相关权利归原权利人所有。如发现内容存在错误、违法或侵权情形,请联系顺企网并提交文章链接及有效证明,我们将及时核查处理。

顺企网 | 公司 | 黄页 | 产品 | 资讯 | 免费注册 轻松建站 | 法律声明 | 服务条款 | 联系顺企网
© 11467.com 顺企网 版权所有
ICP备案: 粤B2-20160116 / 粤ICP备12079258号 / 粤公网安备 44030702000007号 / 互联网药品信息许可证:(粤)—经营性—2023—0112