TEM mapping 测试主要测试什么？对样品有什么要求呢？

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。而mappin可以直观的显示出来各元素的分布情况。在飞秒检测做TEM mapping测试对样品有以下几点要求：（1）粉末、液体样品均可，需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样（2）强磁性样品要求颗粒大小不超过200纳米（3）样品是否含有磁性

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飞秒检测为当今先进的检测技术，通过观测分子、原子、电子、原子核等粒子飞秒级（一千万亿分之一秒）的振动、能级跃迁，来判断物质组成和含量。飞秒检测技术可以用于未知物分析、配方分析还原、工业诊断、卫星遥感、超级计算、痕量检测分析等方面。南大博士教授利用飞秒检测技术组建飞秒检测中心（南京蓝大飞秒检测技术有限公司）。飞秒检测中心系南京321计划支持的高新技术平台。飞秒检测中心依托南大云检测、工大、理工大、浙 ...
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