透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。在飞秒检测做TEM测试对样品有以下几点要求:
(1)粉末、液体样品均可,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样
(2)强磁性样品要求颗粒大小不超过200纳米
(3)样品是否含有磁性
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。在飞秒检测做TEM测试对样品有以下几点要求:
(1)粉末、液体样品均可,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样
(2)强磁性样品要求颗粒大小不超过200纳米
(3)样品是否含有磁性
飞秒检测为当今先进的检测技术,通过 ...