环氧树脂的玻璃化温度测试，固体电导率测试
不同制造压力下，离子电导率的堆栈压力依赖性：（a）AM-Li7P3S11，（b）AM-80 Li2S-20 P2S5，（c）GC-Li7P3S11，（d）GC-Li6PS5Br，（e）μC-Li6PS5Br，（f）μC-Li10GeP2S12。
在AM材料和GC材料的情况下（见图2a-d），离子电导率随着堆栈压力（红色区域）的增加而急剧增加，然后在堆栈压力>30-50 MPa（绿色区域）下达到平稳状态，此时颗粒/电极接触良好，足以获得可靠的电导率值，接近SE颗粒的真实本体离子电导率。然而，离子电导率的平台值随着颗粒制造压力的增加而显着增加。这表明随着制造压力的增加，样品显着致密化，这降低了由颗粒内的孔以及不同无定形颗粒之间的传输障碍所引起的离子传输路径的曲折度。在400-500 MPa的非常高的制造压力下，离子电导率的制造压力依赖性变弱，表明随着制造压力的增加，样品颗粒不能进一步致密化。这与高制造压力下颗粒密度的均化效应一致。
