环氧玻璃化温度测试，超纯水电导率测试
μC-SEs显示出明显的离子电导率-堆栈压力依赖性（见图2e，f）。在30-50 MPa的低堆栈压力下，离子电导率随着堆栈压力的增加而急剧增加，正如在AM和GC材料中观察到的一样，这是由改进的颗粒/电极接触（红色区域）引起的。然而，在大约50 MPa和200-250 MPa之间的压力下，μC材料显示出第二个依赖于堆栈压力的状态：随着堆栈压力的增加（深黄色状态），离子电导率的增加较弱。只有在高于200-250 MPa的堆栈压力下，才能观察到具有几乎恒定离子电导率的平台状态（绿色状态）。另一方面，离子电导率的制造压力依赖性比在AM和GC材料中观察到的要弱得多。
为了说明这种明显的制造压力依赖性，图3绘制了GC-Li6PS5Br和μC-Li6PS5Br在不同堆栈压力下，制造压力与离子电导率的关系。在低堆栈压力下，测得的离子电导率非常低，并且受集流体和样品之间接触不良的影响。所以，随着制造压力的增加，离子电导率的明显下降是由于不可重复的接触造成的。另一方面，施加超过50 MPa的堆栈压力导致GC-Li6PS5Br的电导率几乎恒定（与堆栈压力无关），而μC-Li6PS5Br显示先前描述的堆栈压力相关的离子电导率。
